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芯片实验室内某光学测量仪器的振动测试
来源: | 作者:yiyangtest | 发布时间: 2025-05-15 | 38 次浏览 | 分享到:

对于高精密光学测量设备,对于安装环境有严格的要求;同时设备本身也采用了多种隔振和减震措施。

某芯片生产和检测车间,采用 1)YSV8016 振动测试仪 2)YSV202环境微振动传感器 3)YSV2303S 三轴加速度传感器 对于工作状态下某光学检测设备的振动值、隔振器的隔振效率、安装环境的振动值分别进行了检测。


最终分析得到了:

1)结构在工作时的实际振动量值;

2)光学测量设备的隔振效率和隔振曲线

3)实验室安装环境的VC振动等级曲线


图1  被测量的精密设备


图2  设备和地面接触部分安装的环境微振动传感器


图3  试验地面中间部位安装的环境微振动传感器


图4  测量仪器


图5  实验室环境满足VC-D的振动环境要求

试验测试


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